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2013年 11月20日
「国際画像機器展2013」に画像処理技術、外観検査装置を出展いたします。
2013年12月4日(水)から6日(金)まで、パシフィコ横浜(神奈川県横浜市)で開催される「国際画像機器展 2013」に、3次元画像検査技術(動画によるご紹介)、金属部品外観画像検査装置(デモ機)を出展いたします。
3次元画像検査技術は、3次元画像認識技術に加えて識別最適化技術を活用することにより、一般的な3次元画像検査では判別困難な非常に緩やかな凹凸の不良部位も検出することができます。
金属部品外観画像検査装置は、高速ハンドリング技術や高精度位置決め技術をベースとした自動化設備技術と高速画像処理技術や識別最適化技術をベースとした画像検査技術による小型・高速・高精度が特徴です。

当社独自開発の画像処理のアルゴリズム、リコーグループの画像認識技術を活用した外観画像検査装置、腕時計製造で培った自動化設備の設計技術で、お客様へのお役立ちを果します。
ご来場の際には、リコーエレメックスブース(ブースNo.37)へ是非お立ち寄りください。

新開発技術
時間相関技術応用の
塗装曲面外観画像検査

画像検査デモルーム

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全力を尽くします。
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