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2012年11月15日
「国際画像機器展2012」に画像処理技術、外観検査装置を出展いたします。
2012年12月5日(水)から7日(金)まで、パシフィコ横浜(神奈川県横浜市)で開催される「国際画像機器展 2012」に、超高速シート外観画像検査装置、金属部品外観画像検査装置を出展いたします。
シート外観画像検査装置は、超高速で流れるフィルムや電極などのシート状製品を独自の撮像技術、高速画像処理ボードなどで高速・高精度に外観の良否を判定します。
金属部品外観画像検査装置は、円筒形金属部品を自動で搬送し、外周の研磨面を検査。MT(マハラノビス・タグチメソッド)法に代表される品質工学も活用し、汎用製品では難しい、汚れとキズの判別を高精度に行います。

当社独自開発の画像処理のアルゴリズム、リコーグループの画像認識技術を活用した外観画像検査装置、腕時計製造で培った自動化設備の設計技術で、お客様へのお役立ちを果します。
ご来場の際には、リコーエレメックスブース(ブースNo.62)へ是非お立ち寄りください。

新開発技術
時間相関技術応用の
塗装曲面外観画像検査

画像検査デモルーム

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