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2012年 6月1日
「画像センシング展 2012」に画像処理技術、外観検査装置を出展いたします。
2012年6月6日(水)から8日(金)まで、パシフィコ横浜(神奈川県横浜市)で開催される「画像センシング展 2012」に、独自に開発した画像処理のアルゴリズム、リコーグループの画像認識技術を活用した外観画像検査装置を出展いたします。
フィルム、電極などのシート状製品の外観を高速で検査する「シート高速画像検査装置」や、弊社独自のアルゴリズムを組み込んだ「金属加工部品外観検査装置」などを展示いたします。キズ・異物・汚れ・凹凸など多様な欠陥を高速・高精度で検出することで、お客様の生産性と、品質の向上にお役立ちいたします。
ご来場の際には、リコーエレメックスブース(ブースNo.71)へ是非お立ち寄りください。

新開発技術
時間相関技術応用の
塗装曲面外観画像検査

画像検査デモルーム

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