お知らせ | リコーエレメックス株式会社精機事業部　画像処理技術のご案内

2012年　6月1日: 「画像センシング展 2012」に画像処理技術、外観検査装置を出展いたします。; 2012年6月6日(水)から8日(金)まで、パシフィコ横浜（神奈川県横浜市）で開催される「画像センシング展 2012」に、独自に開発した画像処理のアルゴリズム、リコーグループの画像認識技術を活用した外観画像検査装置を出展いたします。
フィルム、電極などのシート状製品の外観を高速で検査する「シート高速画像検査装置」や、弊社独自のアルゴリズムを組み込んだ「金属加工部品外観検査装置」などを展示いたします。キズ・異物・汚れ・凹凸など多様な欠陥を高速・高精度で検出することで、お客様の生産性と、品質の向上にお役立ちいたします。
ご来場の際には、リコーエレメックスブース（ブースNo.71）へ是非お立ち寄りください。

時間相関イメージセンサ利用の塗装・めっき外観検査装置

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ぜひ一度お問い合わせください。